從中國(guó)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局獲得的信息，華碧上海近日再獲一發(fā)明專利授權(quán)，發(fā)明名稱為《集成電路缺陷定位測(cè)試系統(tǒng)》，專利號(hào)為200810037221.0。
《集成電路缺陷定位測(cè)試系統(tǒng)》提供一種集成電路缺陷定位測(cè)試系統(tǒng)及實(shí)現(xiàn)方法，利用本發(fā)明,可直接對(duì)集成電路的各種不同類型缺陷,實(shí)現(xiàn)直觀的物理位置缺陷定位功能,能夠及時(shí)、準(zhǔn)確地發(fā)現(xiàn)集成電路的缺陷,從而改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量、加快研發(fā)速度、提高生產(chǎn)工藝水平。
華碧鑒定所通過(guò)技術(shù)研發(fā)和知識(shí)產(chǎn)權(quán)保護(hù)，目前多項(xiàng)專利填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)產(chǎn)品質(zhì)量鑒定領(lǐng)域的技術(shù)空白。"
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